Betrieb, 19. Dezember 2019

Mit neuem Elektronenmikroskop auf Störstoffjagd

Genauere Analyse von Produktionsfehlern

Dr. Alexander Karbach und Beate Weiss vor dem „jüngsten“ der drei Elektronenmikroskope. Im Hintergrund sind links das Magellan und rechts das Phenom XL erkennbar.
Dr. Alexander Karbach und Beate Weiss vor dem „jüngsten“ der drei Elektronenmikroskope. Im Hintergrund sind links das Magellan und rechts das Phenom XL erkennbar.

Mit dem Hitachi SU 5000 mit Oxford EDX-System verfügt das Laborteam um Dr. Alexander Karbach jetzt über noch mehr Analysepower bei der Partikelanalyse. Denn das neue Rasterelektronenmikroskop kann viel mehr Daten als sein Vorgängermodell erfassen und automatisch auswerten. Dies erlaubt CURRENTA genauere Analysen und erschließt völlig neue Einsatzbereiche im CHEMPARK.

Sei es nun ein „Krümel“ auf der Esstischplatte, ein Metallspan im Anlagenfilter oder sogar fertigen Produkt – nicht immer verrät er auf den ersten Blick, woraus er alles besteht und woher er stammt. Die Oberflächenanalytiker der CURRENTA sind auf solche elementaren Fragestellungen spezialisiert. Denn sie verfügen über die richtige Technik und kompetente Mitarbeiter. Vor einem Jahr hat Dr. Alexander Karbach mit dem Hitachi SU 5000 mit Oxford EDX-System das dritte Rasterelektronenmikroskop in Betrieb genommen. Es zeichnet sich dadurch aus, dass es eine automatische quantitative Analyse von bis zu 200.000 Partikeln bietet. Da deutlich mehr „Krümel“ beziehungsweise Körner mit dem neuen Gerät „per Elektronen“ unter die Lupe genommen werden, kann so eine Analyse zwar deutlich länger als die bisherige morphologische und händische Analyse dauern. Es lohnt sich aber zu warten, da mehr Daten auch mehr analysierte Partikel und somit ein genaueres Ergebnis bedeuten.

Mitarbeiter-Know-how entscheidend

Um aus der Vielzahl der automatisch gewonnenen Daten die richtigen Schlüsse zu ziehen, bedarf es aber viel Erfahrung und elementaren Grundwissens, die sich bislang (noch) nicht von künstlicher Intelligenz gewinnen lassen. B. Eng. Beate Weiss ist seit vielen Jahren in der Analytik zu Hause und kann anhand chemischer und morphologischer Muster diese wie ein Fingerabdruck chemischen Verbindungen exakt zuordnen. Im Gespräch mit dem Kunden geht die Wirtschaftsingenieurin die Analysebefunde durch und kann so in der Regel rasch klären, woher die gefundenen Partikel stammen. Fast schon wie in der Kriminaltechnik lässt sich nachzuvollziehen, wie der Übeltäter bzw. Störstoff sich ins System oder Produkt eingeschlichen hat.

Beate Weiss kann anhand chemischer und morphologischer Muster diese wie ein Fingerabdruck chemischen Verbindungen exakt zuordnen.

Das effektive Zusammenspiel von leistungsfähiger moderner Technik und persönlicher Kompetenz, von der Probenaufbereitung bis zur Interpretation der Messergebnisse, macht die Stärke der CURRENTA Analytik auch in diesem Fall wieder aus. Beim Kauf des neuen automatisch arbeitenden Mikroskops ging es somit nie darum, Mitarbeiter zu ersetzen, sondern vielmehr diesen zu helfen, Ihre Arbeit noch effektiver mit mehr Erkenntnisgewinn für den Kunden erfolgreich zu erledigen.

Automatisierung ermöglicht Erkenntnisgewinn

Der Blick zurück auf ein Jahr im Laboralltag lässt die Vielfalt der Möglichkeiten, große bis sehr kleine Partikel, im Nanobereich, zu analysieren, erst erahnen. Das Hitachi-Gerät deckt den Maßstab zwischen Magellan & Phenom XL ab und ermöglicht die Suche nach atemwegserkrankenden Partikeln, wie zum Beispiel Asbest im Mörtel oder mineralischen Dämmmaterialen. Auf große Genauigkeit kommt es bei Pharmaanlagen an, wenn diese nach Inbetriebnahme oder Revisionspause wieder in Betrieb gehen sollen und zunächst „sauber gefahren“ werden müssen. Aber auch wenn Metallkrümel in Filtern gefunden werden, hilft die Partikelanalyse, um deren Ursache zu finden.  

Vorteile der neuen Partikelanalyse auf einen Blick

•       Hohe Durchsatzraten

•       Genaue Beschreibung der einzelnen Partikel

•       Sehr geringe Nachweisgrenze

•       Partikeldurchmesser von 1µm analysierbar

•       Etablierung wiederholbarer Prozesse

      

Nach DIN EN ISO/IEC 17025 zertifiziert

Als auch auf dem freien Markt tätiges Labor ist die CURRENTA Analytik natürlich nach DIN EN ISO/IEC 17025 zertifiziert. Es wird damit der Nachweis geliefert, dass kompetent gearbeitet und valide Ergebnisse erzielt werden – eine wichtige Grundlage für die Zusammenarbeit auch über Ländergrenzen hinaus.

Einzigartige Analysen für Kunden in CHEMPARK

„Das Trio der Elektronenmikroskope ist im CHEMPARK einzigartig und bietet unseren Kunden einen Mehrwert vor Ort“, unterstreicht Laborleiter Karbach. Einige Kunden würden zwar auch solche Mikroskope einsetzen, deckten damit aber nicht die Bandbreite der CURRENTA ab, die sich nur bei mehreren Kunden und ausreichend Auftragsvolumen lohne. Gerade die Nähe zu Kunden ist für die CURRENTA von großem Vorteil. „Es mag profan klingen, aber wir sind einfach immer da, wenn der Kunde uns braucht oder eine Frage hat. Und so kriegen wir einfach schneller mit, was ihn bewegt und wie wir ihm helfen können“, stellt der Oberflächenanalytiker nüchtern fest.

Befunde einer mit dem neuen Hitachi-Gerät durchgeführten Metallpartikelanalye.
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